安捷倫 7900 ICP-MS電感耦合等離子體質(zhì)譜儀是一款靈活的單四極桿 ICP 質(zhì)譜儀，可提供非常出色的基質(zhì)耐受性、有效的氦碰撞模式、超低的檢測限和寬廣的動態(tài)范圍。因此，無論樣品類型如何，您都可以確信始終報(bào)告準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)，即使在痕量分析中也是如此。
7900 ICP-MS 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀為要求苛刻的商業(yè)和工業(yè)應(yīng)用提供了超高的性能，并具有研究和高級分析（例如形態(tài)分析）所需的靈活性。高靈敏度和瞬時(shí)信號的快速采集是單納米顆粒 (spICP-MS)、單細(xì)胞分析和激光剝蝕所必需的，讓您能夠在競爭中脫穎而出。
安捷倫 7900 ICP-MS電感耦合等離子體質(zhì)譜儀產(chǎn)品特性：
● 高鹽基質(zhì)耐受能力 — Agilent 7900 ICP-MS 的穩(wěn)定等離子體和可選的超耐高鹽進(jìn)樣系統(tǒng) (UHMI) 可幫助您對高達(dá) 25% 總?cè)芙夤腆w (TDS) 含量的樣品進(jìn)行常規(guī)測量，其高鹽基質(zhì)耐受能力比傳統(tǒng) ICP-MS 限高 100 倍。
● 寬動態(tài)范圍 — 新型正交檢測器系統(tǒng) (ODS) 可提供高達(dá) 11 個數(shù)量級的動態(tài)范圍，從亞 ppt 級到百分級濃度，用戶可在同一次運(yùn)行中同時(shí)測量痕量與常量元素。
● 痕量物質(zhì)檢測更勝一等 — 新型的接口設(shè)計(jì)和優(yōu)化的擴(kuò)展級真空系統(tǒng)提高了離子傳輸效率，在 < 2% CeO 的條件下可提供 >109 cps/ppm 的靈敏度，ODS 則可提高增益并降低背景，進(jìn)而提高信噪比。
● 更快的瞬時(shí)信號分析 — 7900 ICP-MS 每秒可完成 10000 次獨(dú)立測量，可為瞬時(shí)信號的準(zhǔn)確分析提供很短的積分時(shí)間
● 易用性 — 新一代 ICP-MS MassHunter 軟件提供了直觀的控制面板設(shè)計(jì)，配備的小工具可指導(dǎo)您完成每一步分析。只需簡單回答幾個應(yīng)用問題，或者對一個典型的樣品進(jìn)行分析，創(chuàng)新的方法設(shè)置向?qū)Ъ纯勺詣訛槟鷦?chuàng)建方法。您還可以使用遠(yuǎn)程監(jiān)控應(yīng)用程序隨時(shí)隨地監(jiān)測與控制您的 ICP-MS 儀器，增強(qiáng)了靈活性。
● 更高的分析效率 — 耐高鹽進(jìn)樣系統(tǒng) (UHMI) 技術(shù)結(jié)合可選的集成樣品引入系統(tǒng) (ISIS 3) 以及 ODS，可以在寬動態(tài)范圍內(nèi)分析并定量幾乎任何樣品，避免了因產(chǎn)生量程外結(jié)果而不得不重新分析所耗費(fèi)的額外時(shí)間及成本。
1,使用 HPLC-ICP-MS 進(jìn)行一體化多元素形態(tài)分析
Agilent 7900 ICP-MS 可提供要求很高的應(yīng)用所需的靈活性。針對安捷倫液相色譜系統(tǒng)提供全面的連接支持和集中的軟件控制，能夠?qū)崿F(xiàn)常規(guī)以及高性能的形態(tài)分析。同時(shí)還支持其他色譜分離（例如 GC、CE 和 FFF。HPLC-ICP-MS 高級功能包括自動切換色譜柱和流動相，能夠在一次無人值守運(yùn)行序列中分析多種 HPLC-ICP-MS 方法。
2,單納米顆粒 (sNP) 分析的高靈敏度和快速信號采集
在激光剝蝕 (LA) ICP-MS 成像應(yīng)用中，高靈敏度是檢測極小納米顆粒 (NP) 的重要因素，也是獲得理想空間分辨率的關(guān)鍵。7900 在整個質(zhì)量數(shù)范圍內(nèi)具有出色的靈敏度，結(jié)合優(yōu)化的 0.1 ms 駐留時(shí)間，可實(shí)現(xiàn)快速時(shí)間分辨分析 (TRA) 采集。將高靈敏度與 ICP-MS 高穩(wěn)定性等離子體以及寬動態(tài)范圍檢測器相結(jié)合，可輕松實(shí)現(xiàn)常量元素分析。
3,利用靈活的配置和較高的性能輕松應(yīng)對 ICP-MS 高級應(yīng)用
7900 可提供要求很高的應(yīng)用所需的靈活性。利用 ORS4 碰撞/反應(yīng)池有效控制干擾，并結(jié)合高效的冷等離子體，實(shí)現(xiàn)高純度加工化學(xué)品的超痕量分析。可選的樣品引入工具包能夠?qū)崿F(xiàn)有機(jī)溶劑和腐蝕性樣品（例如 HF）的常規(guī)分析。易于連接至第三方外圍設(shè)備（例如激光剝蝕 (LA-ICP-MS)），從而實(shí)現(xiàn)固體的直接、高靈敏度分析。
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